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QuaNix 4200/4500涂层测厚仪

QuaNix 4200/4500涂层测厚仪
德国尼克斯涂层测厚仪简介:德国Automation公司成立于1958年。长期以来一直致力于开发、研制、生产涂层测厚仪。早在公司创始人尼克斯(Dr.Nix)博士的父亲即开始研究涂层测厚仪。自发明世界上第一台测厚仪以来,尼克斯家族经过几代人的努力,为测厚仪领域做出了杰出贡献。 仪器特点: 是利用霍尔原理而设计的探头与主机一体化金属涂层测厚仪 只需较零,无需校准 零位稳定 4200Fe探头,4500Fe/NFe探头独特的直流采样技术 技术指标: 磁性基体:Fe探头(4200/4500) 非磁性基体 NFe探头(4500) 测量范围:Fe:0-3000um/NFe:0-2000um精度:0-50μm:≤±1μm, 50-1000μm:≤±1.5%, 1000-2000μm:≤±2%, 1000-3000μm≤±3%最小接触面:10mm×10mm最小曲率:凸、凹半径:3mm/25mm最小基体厚度:Fe:0.2mm,NFe:0.05mm 温度补偿范围:0-60度 显示:LCD液晶 探头:红宝石固定式 电源:5号电池2节 尺 寸:110×60×27mm重 量:110g
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